| EN ESTE TRABAJO SE ESTUDIO Y CARACTERIZO LA INTERACCION DE SUPERFICIES ELECTRODICAS DE COBRE Y ENARGITA NATURAL CON AGENTES COLECTORES DEL TIPO TIOL EN MEDIOS ELECTROLITOS DE ACIDEZ VARIABLE. LOS AGENTES COLECTORES CONSIDERADOS FUERON ETILXANTATO DE POTASIO (KX) Y DIBUTILDITIOCARBAMATO DE POTASIO (DBDTCK). PARA LA INTERFASE CU/TAMPON BORATO PH 9.2, 1 MMX, SE ESTUDIO EL PROCESO DE ELECTRO ADSORCION/ELECTRODESORCION DE ETILXANTATO, EN UN INTERVALO DE POTENCIAL COMPRENDIDO ENTRE -1.1 V Y -0.6 V. SE DETERMINO MEDIANTE ESTUDIOS POTENCIODINAMICOS Y DE ESPECTROSCOPIA DE IMPEDANCIA ELECTROQUIMICA (EIE) QUE, DURANTE EL PROCESO DE ELECTROADSORCION DE XANTATO, TIENE LUGAR EN FORMA SIMULTANEA LA REACCION DE EVOLUCION DE HIDROGENO (REH). DE LAS MEDIDAS DE ANGULO DE CONTACTO DE LA INTERFACE, FUE POSIBLE ESTABLECER QUE LA ELECTROADSORCION DE LA ESPECIE XANTATO OTORGA UN LEVE GRADO DE HIDROFOBICIDAD A LA SUPERFICIE ELECTRODICA. DEL MISMO MODO, SE ESTUDIO LA INTERFASE CU/TAMPON FOSFATO PH 6.8 , 1 MM DIBUTILDITIOCARBAMATO (DBDTC). EL ESTUDIO POTENCIODINAMICO ESTUVO COMPRENDIDO EN UN INTERVALO DE POTENCIAL ENTRE -1.0 V Y 0.50 V, MOSTRANDO LA FORMACION DE CU (DBDTC) 2, (DBDTC)2 Y DE ESPECIES DE COBRE QUE CONTIENEN OXIGENO (OXO HIDROXO COMPUESTOS). LA PRESENCIA DE UNOS U OTROS, SOBRE LA SUPERFICIE ELECTRODICA ES DEPENDIENTE DEL VALOR DE POTENCIAL APLICADO A LA INTERFASE. ESTOS RESULTADOS FUERON CONFIRMADOS, COMPLEMENTARIAMENTE, CON MEDIDAS ESPECTROSCOPICAS UV-VIS, IMPEDANCIA ELECTROQUIMICA Y MEDIDAS DE HIDROFOBICIDAD (ANGULOS DE CONTACTO). PARA LA INTERFASE ENARGITA / TAMPON BORATO PH 9.2, 1 MMELITXANTATO (X) SE REALIZO UN ESTUDIO POTENCIODINAMICO EN UN INTERVALO DE POTENCIAL COMPRENDIDO ENTE -0.1 V A 0.6 V. EN ESTA REGION DE POTENCIAL TIENEN LUGAR LOS PROCESOS DE ELECTROADSORCION (XADS), ELECTROFORMACION DE LA SUPERFICIE DIMERA (X2) Y LA ELECTROFORMACION DEL COMPUESTO METAL - COLECTOR (CUX2). LA PRESENCIA DE ESTAS ESPECIES, AL VALOR DE POTENCIAL APLICADO A LA INTERFACE (0.015 V, 0,36 V Y 0.55 V), FUE CONFORMADA POR MEDIDAS DE ESPECTROSCOPIA FOTOELECTRONICA DE RAYOS X (XPS) DETERMINACION POR EXPECTROSCOPIA DE ABSORCION ATOMICA (EAA) DE LAS ESPECIES QUE PASAN A LA SOLUCION [CU (II) Y AS (V)], Y DE LA CARGA ELECTRICA INVOLUCRADA DURANTE LA POLARIZACION DE ESTA INTERFASE, PEMITIO PROPONER UNA ESTEQUIMETRIA PARA LAS REACCIONES ELECTROQUIMICAS DE FORMACIOND E LAS PELICULAS SUPERFICIALES QUE CONTIENEN A LOS COMPUESTOS ARRIBA INDICADOS. EN FORMA ADICIONAL, SE REALIZO UN ESTUDIO ESPECTROSCOPIA DE IMPEDANCIA ELECTROQUIMICA (EIE) A LOS POTENCIALES DE POLARIZACION QUE PERMITIERON ESTABLUPERIFICALES. DE LAS MEDIDAS DE ANGULO DE CONTACTO DE LA INTERFASE, FUE POSIBLE ESTABLECER QUE LA PRESENCIA DE LA ESPECIE ELECTROADSORBIDAñoTORGA UN ALTO GRADO DE HIDROFOBICIDAD A LA SUPERFICIE ELECTRODICA. UN ESTUDIO SIMILAR AL DESCRITO ANTERIORMENTE SE REAALIZO CON LA INTERFASE ENARGITA / TAMBPON FOSFATO PH 6.8, 1 MM DBDTC, EN EL INTERVALO DE POTENCIAL DE -0.3 V A 0.7 V. EN ESTE INVERVALO DE POTENCIAL, TIENEN LUGAR LA ELECTROFIRMACION DE LAS ESPECIES CU(DBDTC)2 Y (DBDTC)2. LOS PARAMETROS POTENCIODINAMICOS DE ESTOS PROCESOS PERMITIERON ESTABLECER UN MECANISMO DE ELECTROFORMACION PARA ESTAS ESPECIES. A POTENCIALES MAS POSITIVOS QUE 0.50 V SE FORMAN COMPUESTOS DE COBRE Y ARSENICO QUE CONTIENEN OXIGENO (OXO-HIDROXO COMPUESTOS). LOS RESULTADOS POTENCIODINAMICOS SE COMPLEMENTARON CON EXPERIENCIAS DE XPS, EAA, EIE Y MEDIDAS DE HIDROFOBICIDAD. TODO LO ANTERIOR PERMITIO PROPNER UNA ESTEQUIOMETRIA PARA LAS REACCIONES ELECTROQUIMICAS DE FORMACION DE LAS PELICULAS SUPERFICIALES Y UN CIRCUITO ELECTRICO EQUIVALENTE, ACORDECON LOS PREOC ESOS ELECTROQUIMICOS INTERFACIALES. ADEMAS SE ESTABLECIO, QUE LA PRESENCIA DE LA ESPECIE COLECTORA (X O DBDTC) EN LA SOLUCION ELECTROLITICA FAVORECEN LOS PREOCESOS DE OXIDACION DE COBRE Y ENARGITA, DESPLAZANDOLES HACIA POTENCIALES MENOS POSITIVOS. TAMBIEN SE ESTABLECIO QUE EN TODOS AQUELLOS PROCESOS ELECTROQUIMCOS QUE INVOLUCRAN A LA ESPECIE COLECTORA, LA ENARGITA SE COMPORTO COMO UN SUSTRATO ELECTRODICO MAS NOBLE QUE COBRE. |